Тел.: (495) 781-4969, 344-6707, факс (495) 344-9810
На главную страницу
РАСПРОДАЖА!!!
Подписаться на
журнал "КИПиС"
Корзина 0 товаров
0,00 руб.
Заказать звонок
специалиста
На главную страницу Написать письмо Добавить в избранное Карта сайта Поиск
Поиск
Производители
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама
Журнал "Контрольно-измерительные приборы и системы"

Система измерения параметров полупроводников 4200-SCS/F

Розничная цена (с НДС):
3 606 965,00 руб.
На заказ На заказ
Торговая марка:
Срок гарантии:
12 месяцев
Купить дешевле
Купить дешевле

Уважаемый посетитель!

Если Вам необходимо приобрести сложное измерительное оборудование Tektronix | Keithley, но Ваш бюджет ограничен, предлагаем Вам рассмотреть возможность приобретения восстановленного оборудования Tektronix | Keithley по программе Tektronix Encore со значительной скидкой (от 15 до 70%).

Подробнее     Подать заявку

Закрыть

Система Keithley 4200-SCS – универсальная система для измерений I-V (вольт-амперных характеристик –ВАХ) и С-V (вольт-фарадных характеристик) на постоянном токе и в импульсном режиме для полупроводниковых приборов и тестовых структур на пластине в полупроводниковом производстве.

Система имеет модульную многоканальную архитектуру и настраиваемую конфигурацию, поддерживая до 9 измерительных и дополнительных модулей.

Обеспечивает:

  • Измерение ВАХ в диапазоне токов 0,1 фА до 1 А и напряжения от 1 мкВ до 210 В 
  • Измерение C-V в диапазоне до 400 В с разрешением 5 мВ, в частотном диапазоне от 1 кГц до 10 МГц
  • Ультрабыстрое и импульсное тестирование с временным разрешением 10 нс

Основные особенности: 

  • Встроенный системный контроллер с процессором 2 Duo-Pentium и поддержкой монитора высокого разрешения
  • Шасси поддерживает до 9 измерительных модулей одновременно 
  • Опционально предусилитель малых токов для модулей средней и высокой мощности 
  • Измерение вольт-фарадных (C-V) характеристик с дифференциальным смещением ±60 В и в диапазоне частот от 1 кГц до 10 МГц, а также в квазистатическом режиме  и ультраникочастотную CV-метрию  
  • Опциональное измерение высоковольтных Вольт-фарадных (С-V) характеристик в диапазоне дифференциального напряжения до 400 В 
  • Интерактивная интуитивно понятная пользовательская среда тестирования (КITE) позволяет быстро решать задачи по управлению процессом измерения и тестирования 
  • Библиотека до 450 стандартных тестов  

Рабочая станция на базе Windows XP 

  • Процессор Pentium Core 2 Duo 6400 
  • Память - 2 Гб 
  • Жесткий диск -500 Гб SATA HDD 
  • DVD/CD-RW
  • Встроенный 12-дюймовый дисплей с выходом на внешний SVGA Монитор 
  • Порты LAN, GPIB, USB, RS-232, Parallel Printer Port

Система измернеия параметров полупроводников Keithley 4200 - это комплекс аппаратных и программных средств

Измерительные модули

Измерительные модули предназначены для снятия ВАХ на постоянном токе. Они устанавливаются в слоты базового блока системы 4200-SCS. На одно шасси 4200- SCS возможно установить до 9 измерительных модулей 4210-SMU или 4200-SMU

Модули средней мощности 4200-SMU

  • 7 токовых диапазонов для генерации и измерения :
    от 100 нА (полная шкала) до 100 мA (полная шкала).
    Разрешение:
    от 100 фA до 100 нA – в режиме измерения 
    от 5 пA до 5 мкА - в режиме генерации
  • 4 вольтовых диапазона для генерации и измерения
    от 200 мВ до 200 В
    Разрешение:
    от 1 мкВ до 200 мкВ - в режиме измерения 
    от 5 мкВ до 5 мВ - в режиме генерации
    Максимальное выходное напряжение
    21 В при токе 100 мА
    210 В при токе 10 мА
  • Опциональный токовый предусилитель (4200-PA) расширяет токовые диапазоны дополнительно:
    Диапазоны : 1 пА, 10 пА, 100 пА, 1 нА, 10 нА

Модули большой мощности 4210-SMU

  • 9 токовых диапазонов для генерации и измерения :
    от 100 нА (полная шкала) до 1 A (полная шкала).
    Разрешение:
    от 100 фA до 1 мкA – в режиме измерения
    от 5 пA до 50 мкА - в режиме генерации
  • 4 вольтовых диапазона для генерации и измерения
    от 200 мВ до 200 В
    Разрешение:
    от 1 мкВ до 200 мкВ - в режиме измерения
    от 5 мкВ до 5 мВ - в режиме генерации
    Максимальное выходное напряжение
    21 В при токе 1 А
    210 В при токе 10 мА
  • Опциональный токовый предусилитель (4200-PA) расширяет токовые диапазоны дополнительно:
    Диапазоны : 1 пА, 10 пА, 100 пА, 1 нА, 10 нА

Токовый предусилитель 4200-PA
Расширяет токовые диапазоны дополнительно: 
1 пА, 10 пА, 100 пА, 1 нА, 10 нА



Диапазон токаМакс.напряжение Разрешение
(измерение)
Точность
измерения 
±(% от шкалы + А)
Разрешение
(генерация)
Точность
генерации 
±(% от шкалы + А)
4210-SMU1 А21 В1 мкА0,100% + 200 мкА50 мкА0,100% + 300 мкА
100 мА210 В100 нА0,045% + 3 мкА5 мкА0,050% + 15 мкА
4200-SMU и 4210-SMU100 мА21 В100 нА0,045% + 3 мкА5 мкА0,050% + 15 мкА
10 мА210 В10 нА0,037% + 300 нА500 нА0,042% + 1,5 мкА
1 мА210 В1 нА0,035% + 30 нА50 нА0,040% + 150 нА
100 мкА210 В100 пА0,033% + 3 нА5 нА0,038% + 15 нА
10 мкА210 В10 пА0,050% + 600 пА500 пА0,060% + 1,5 нА
1 мкА210 В1 пА0,050% + 100 пА50 пА0,060% + 200 пА
100 нА210 В100 фА0,050% + 30 пА5 пА0,050% + 30 пА

4200-SMU и 4210-SMU
с опцией  4200-PA

10 нА210 В10 фА0,050% + 1 пА500 фА0,060% + 3 пА
1 нА 210 В3 фА0,050% + 100 фА50 фА0,060% + 300 фА
100 пА210 В1 фА0,100% + 30 фА15 фА0,100% + 80 фА
10 пА210 В0,3 фА0,050% + 15 фА5 фА0,500% + 50 фА
1 пА210 В100 нА1,000% + 30 фА1,5 фА1,000% + 40 фА
Диапазон
напряжения
Максимальный
ток
Разрешение
измерения
Точность
измерения
±(% от шкалы + А)
Разрешение
(генерация)
Точность
генерации
±(% от шкалы + А)

4200-SMU

4210-SMU

200 В10,5 мА 105 мА200 мкВ0,015% + 3 мВ5 мВ0,02% + 15 мВ
20 В105 мА1,05 мА20 мкВ0,01% + 1 мВ500 мкВ0,02% + 1,5 мВ
2 В105 мА1,05 мА2 мкВ0,012% + 150 мкВ50 мкВ0,02% + 300 мкВ
200 мВ105 мА1,05 мА1 мкВ0,012% + 100 мкВ5 мкВ0,02% + 150 мкВ

Интегрированный модуль заземления:

  • Выходной разъем: двойной триаксиальный, тройной клемник
  • Максимальный ток 2,6 А при двойном триаксиальном подключении или 4,4 А через тройной клемник
  • Нагрузочная емкость – не ограничена
  • Сопротивление кабеля: силового – менее 1 Ом
  • Сенсорного - менее 10 Ом.

 Измерение CV (вольт-фарадных) характеристик

С-V измерения в системе 4200- SCS осуществляются с помощью:

  • встраиваемой опции CV-метрии 4210-CVU 
  • опции расширения для проведения мощной CV-метрии 4200-CVU-POWER
  • квазистатическим методом CV-метрии при помощи модулей  4200-SMU или 4210-SMU
    с опцией  4200-PA
  • новым патентованным методом ультранизкочастотной CV-метрии (10 мГц...10 Гц) при помощи модулей  4200-SMU или 4210-SMU с опцией  4200-PA

Опция CV-метрии 4210-CVU может быть установлена в систему которая уже эксплуатируется или заказана при первоначальной комплектации системы.

Встроенный C-V модуль обеспечивает C-V измерения с параметрами: 

  • частотный диапазон от 1 кГц до 10 МГц
    наилучшее разрешение тестового сигнала 1 кГц
    выходной уровень 10 мВ...100 мВ
  • диапазоны измерения: 1пФ/10 пФ/100 пФ/1 нФ/10 нФ/100 нФ/1 мкФ (зависит от частоты тестового сигнала)
  • внутренний источник постоянного смещения в диапазоне ±30 В (60 В диф.)
    разрешение 1 мВ 
    максимальный ток 10 мА
  • режим свипирования
    параметры свипирования: постоянное смещение, частота, переменное напряжение
    закон: линейный,пользовательский
    количество точек: 4096
  • Измеряемые параметры: Cp-G, Cp-D, Cs-Rs, Cs-D, R-jX, Z-Theta

  

Высокоскоростная цифровая архитектура позволяет строить графики С-V в режиме реального времени.

4210-CVU содержит широкий набор образцов программ, библиотек тестов и примеров экстракции параметров: 

  • Стандартная C-V метрия: для обычных МОП-транзитовов, диодов и конденсаторов
  • MOScap: Измерение C-V на МОП-конденсаторах
  • MOSFET: Измерение C-V на МОП-транзисторах
  • Время жизни: Определение скорости генерации и время жизни носителей, (график Зебрста) для МОП-конденсаторов 
  • Мобильные ионы: Определение подвижного заряда с помощью измерений на разных темепературах
  • Емкость: Снятие характеристик как C-V так и C-f (от частоты) на МИМ (металл –изолятор –металл) конденсаторах
  • PNjunction: Измерение емкости p n перехода или диода Шоттки как функции приложенного постоянного смещения
  • Photo Voltaic cell: Измерение как прямой так и обратной характеристики ячеек солнечных батарей cell
  • BJT: Измерение емкости (при нулевом смещении) между выводами биполярного транзистора (База-эммитер, База-коллектор, Эммитер-коллектор)
  • I-V/C-V с переподключением: Демонстрация с использованием измерительных модулей SMUs, опции CVU, и переключательных матриц and 707A/708A в одном проекте 
  • Емкость межсоединений: Измерение C-V малой межконтактной емкости на подложке
  • Нанопроволоки: Проведение C-V измерений на двухвыводном приборе на базе нанопроволоки
  • Flash: Проведение C-V измерений на типичном приборе памяти на базе плавающего затвора

Опция расширения для проведения мощной CV-метрии 4200-CVU-Power

  • Диапазоны измерения от 1 пФ до 1 нФ
  • Тестовый сигнал от 100 кГц до 10 МГц (10 мВ...100 мВ)
  • Источник постоянного смещения ±200 В (400 В диф.) с разрешением 5 мВ
  • Максимальный ток 100 мА (для 4200-SMU)  или 300мА (для 4210-SMU)
  • Измеряемые параметры: Cp-Gp, DCV, временные метки

4200-CVU-Power применяется для тестирования:

  • мощные устройства
  • дисплеи
  • LDMOS
  • устройства памяти

Квазистатический способ CV-метрии

  • Два модуля  4200-SMU или 4210-SMU с опцией  4200-PA
  • Низкий уровень шумов благодаря уникальному методу Ramp Rate
  • Поддержка постоянного смещения ±200 В
  • Библиотеки тестов с KTEI

Применяется для тестирования:

  • CMOS малой мощности
  • некоторые типы дисплеев (индикаторов)
  • различные устройства с низким током утечки

Ультранизкочастотная CV-метрия

  • Два модуля  4200-SMU или 4210-SMU с опцией  4200-PA (частота 10 мГц...10 Гц)
  • Сверхнизкий уровень шумов 
  • Диапазон измерения от 1 пФ до 10 нФ
  • Экстракция:Cp-Gp, Cp-D, Cs-Rs, Cs-D, R-jX, Z-Theta, DCV, частота, временные метки

Применяется для тестирования:

  • CMOS
  • органическая электроника (OLED, OFET, OPVC)
  • устройства памяти
  • тонкопленочные транзисторы (TFT)

Ультрабыстрое тестирование

В системе 4200-SCS доступно два вида генераторов импульсов:

  • Генератор импульсов типа 4220-PGU 
  • Модуль ультрабыстрого тестирования 4225-PMU

Обе модели поддерживают:

  • Два выходных канала 
  • Стандартный (2-уровневый) импульс 
  • Segment Arb 
  • Формирование сигнала произвольной формы 
  • Каждый выходной сигнал имеет два диапазона выхода: 
    10 В (высокий импеданс; 5 В с 50 Ω) 
    40 В (высокий импеданс; 20 В с 50 Ω)

Модель 4220-PGU является только двуканальным генератором импульсов напряжения.

Модуль ультрабыстрого тестирования 4225-PMU выполняет:

импульсное тестирование: генерация импульса/измерение (аналогично работе измерительных модулей)

переходная ВАХ: захват формы; интегрированные измерения тока и напряжения во времени

импульсный генератор :двух и мультиуровневый импульс; генерация сигналов произвольной формы; генерация пользовательской формы сигнала из сегментов Segment ARB

Для работы с малыми токами используются модули предусилителей/коммутаторов 4225-RPM

 

Амплитудные хараткеристики генератора 4225-PMU и 4220-PGU

ПараметрИмпедансДиапазон 10 ВДиапазон 40 В
Амплитуда на выходе

50 Ом - 1 МОм

-10 В...+ 10 В

-40 В...+40 В

50 Ом -  50 Ом

-5 В...+ 5 В

-20 В...+ 20 В

Точность


±(0,5% + 10 мВ)

±(0,2% + 20 мВ)

Разрешение

50 Ом - 1 МОм

< 250 мкВ

< 750 мкВ

50 Ом -  50 Ом

< 0,5 мВ

< 1,5 мВ

Уровень шума, скз (типичное)


±(0,3% + 1 мВ)

±(0,1% + 5 мВ)

Выходной импеданс


50 Ом

50 Ом

Временные и частотные хараткеристики генератора 4225-PMU и 4220-PGU

ПараметрДиапазон 10 В
(только генерация)
Диапазон 10 В
(с измерением)
Диапазон 40 В
(только генерация)
Диапазон 40 В
(с измерением)
Частотный диапазон

1 Гц...50 МГц

1 Гц...8,3 МГц

1 Гц...10 МГц

1 Гц...3,5 МГц

Временное разрешение

10 нс

10 нс

10 нс

10 нс

Джиттер, скз (типичное)

0,01% + 200 пс

0,01% + 200 пс

0,01% + 200 пс

0,01% + 200 пс

Период

20 нс...1с

120 нс...1с

100 нс...1с

280 нс...1с

Длительность импульса

10 нс...(период - 10 нс) 

60 нс...(период - 10 нс) 

50 нс...(период - 10 нс) 

140 нс...(период - 10 нс) 

Программируемое
время перехода

10 нс...33 мс

20 нс...33 мс

30 нс...33 мс

100 нс...33 мс

Измерение тока (4225-PMU)

ПараметрДиапазон 10 В

Диапазон 40 В 

Диапазон измерения тока

10 мА

200 мА

100 мкА

10 мА 

800 мА

Точность

±(0,25% + 100 мкА)

±(0,25% + 250 мкА)

±(0,25% + 1 мкА)

±(0,5% + 100 мкА)

±(0,25% + 3 мА)

Шум

15 мкА

50 мкА

75 нА

5 мкА

200 мкА

Измерение тока (4225-RPM)

ПараметрДиапазон 10 В
Диапазон измерения тока

100 нА

1 мкА

10 мкА

100 мкА

1 мА

10 мА

Точность

±(0,5% + 1 нА)

±(0,5% + 1 нА)

±(0,5% + 30 нА)

±(0,5% + 100 нА)

±(0,5% + 1 мкА)

±(0,5% + 10 мкА)

Шум

200 нА

2 нА

5 нА

50 нА

300 нА

1,5 мкА

Измерение напряжения (4225-PMU и 4225-RPM)


±10 В
4225-PMU

±40 В
4225-PMU

±10 В
4225-RPM


Точность

±(0,25% + 10 мВ)

±(0,25% + 40 мВ)

±(0,25% + 10 мВ)

Для ультрабыстрого тестирования NBTI/PBTI полупроводников рекомендуется опция 4200-BTI-A. Это идеальное средство автоматического тестирования не только на уровне подложки, но и при использовании кассет. 

Опция  4200-BTI-A включает в себя:

  • один модуль ультрабыстрого тестирования 4225-PMU
  • два модуля предусилителей/коммутаторов 4225-RPM 
  • програмное обеспечение для автоматического тестирования (ASC)
  • тесты для ультрабыстрого BTI тестирования
  • комплект кабелей

 

Двухканальный цифровой осциллограф 4200-SCP2 или 4200-SCP2HR

4200-SCP2
полоса пропускания: 750МГц
максимальная частота дискретизации – 1,25 Гвыборок/сек на канал
вертикальное разрешение: 8 бит
глубина памяти: 1М на канал.

4200-SCP2HR
полоса пропускания: 250МГц
максимальная частота дискретизации – 200 Мвыборок/сек на канал
вертикальное разрешение: 16 бит
глубина памяти: 1М на канал

Программные средства

Интерактивное программное обеспечение KTE Interactive состоит из различных программных продуктов для обеспечения функционирования системы Keithley 4200.

Среди них:

  • Keithley Interactive Test Environment (KITE)—интерактивный пользовательский интерфейс для 4200-SCS
  • Keithley User Library Tool (KULT)—позволяет интегрировать пользовательские алгоритмы в KITE для использования 4200-SCS или внешние инструменты. Требуется опция 4200-COMPILER. 
  • Keithley Configuration Utility (KCON)—позволяет управлять по GPIB внешними устройствами, такими как: коммутаторами, внешними измерительными модулями (типа Keithley 236, 237), источниками-измерителями, установками зондового контроля, измерителями емкости, импульсными генераторами, осциллографами
  • Keithley External Control Interface (KXCI)—приложение для управления системой 4200-SCS от удаленного компьютера через GPIB или Ethernet.
  • KPulse—A графический пользовательский интерфейс(GUI) предоставляет альтернативные (без программирования) возможности по конфигурированию и управлению модулями 4225-PMU и 4220-PGU. Используется для проведения быстрых тестов без взаимодействия с другими модулями и ресурсами 4200-SCS
  • KScope—A графический пользовательский интерфейс(GUI) служит для обеспечения альтернативного (без пргграммирования)управление модулями осциллографических карт 4200-SCP2HR и Model 4200-SCP2.

Пользовательский интерфейс (Keithley Interactive Test Environment - KITE) 

Что позволяет данный интерфейс?

  • Даже неопытный пользователь может сразу без помощи программиста приступить к измерениям, которые займут немного времени 
  • Гибкий пользовательский интерфейс позволяет менять параметры на лету и производить тесты интерактивно простым кликом мышки 

  • KITE поддерживает измерительные функции:

                 > Прецизионные измерения (снятия ВАХ) на постоянном токе при помощи измерительных модулей 4200-SMU и 4210-SMU

                 > CV-метрию (измерение импеданса на разных частотах):
                       Cp-Gp (шунтирующая емкость и проводимость), 
                       Cs-Rs (последовательное сопротивление и проводимость), 
                       Cp-D (шунтирующая емкость и коэффициент потерь), 
                       Cs-D (последовательное сопротивление и коэффициент потерь), 
                       R+jX (сопротивление и реактивное сопротивление), 
                       Z-theta (импеданс и фазовый угол), 
                       DCV (смещение постоянного напряжения), 
                       частота, 
                       временные метки на 4096 точек за свипирование

                 > Ультрабыстрые ВАХ: 
                       одновременное измерение тока и напряжения в импульсном режиме; 
                       напряжение, ток и время одновременно оцифровываются в режиме захвата формы ( до 1 млн. точек оцифровки)

  • KITE производит снятие C-V и I-V характеристик и снабжен широким набором образцов программ, библиотек тестов и примеров встроенной экстракции параметров приборов из снятых характеристик
  • Экспорт данных в рабочий лист EXCEL или ASCII формат и графиков в файлы .bmp, .jpg, или .tif. Встроенные функции построения формул, графиков и расчетов упрощают анализ сложных систем

  • Образцы тестов и проектов для различных применений включены в стартовую комплектацию
  • Многозадачность операций позволяющая проводить анализ во время тестирования

Встроенная крупноформатная таблица в стиле Excel с широкими возможностями масштабного управления для анализа: 

  • экспорт в xls формат;
  • библиотека основных тестов ВАХ; 
  • библиотека тестов в области нанотехнологий 
  • библиотека внешних инструментальных команд 
  • встроенные тесты испытания на надежность 
  • фабрично установленные константы

Информация о доступных опций для заказа:

Состав опций может меняться (просьба уточнять у менеджера)

Базовый блок системы 4200:

  • 4200-SCS/C
  • 4200-SCS/C-NOSMU
  • 4200-SCS/F
  • 4200-SCS/F-NOSMU

Опции коммутации:

  • 4200-GP-RS-12
  • 4200-GP-RS-12/707A
  • 4200-GP-RS-24
  • 4200-GP-RS-36
  • 4200-GP-RS-48
  • 4200-GP-RS-60
  • 4200-GP-RS-72
  • 4200-LC-LS-12
  • 4200-LC-LS-12/707A
  • 4200-LC-LS-24
  • 4200-LC-LS-36
  • 4200-LC-LS-48
  • 4200-LC-LS-60
  • 4200-LC-LS-72
  • 4200-UL-LS-12
  • 4200-UL-LS-12/707A
  • 4200-UL-LS-24
  • 4200-UL-LS-36
  • 4200-UL-LS-48
  • 4200-UL-LS-60
  • 4200-UL-LS-72
  • 4200-UL-RS-12
  • 4200-UL-RS-18
  • 4200-UL-RS-24
  • 4200-UL-RS-30
  • 4200-UL-RS-6

Опции системы и аксессуары:

  • 4200-CAB-20UX
  • 4200-CAB-25UX
  • 4200-CAB-34UX
  • 4200-CART
  • 4200-CASE
  • 4200-CVU-PROBER-KIT
  • 4200-CVU-PWR
  • 4200-KEY-RM
  • 4200-MAG-BASE
  • 4200-MAN
  • 4200-MOUSE
  • 4200-MTRX-1
  • 4200-MTRX-2
  • 4200-MTRX-3
  • 4200-PRB-C
  • 4200-Q-STBL-KIT
  • 4200-RM
  • 4200-RPC-0.3
  • 4200-RPC-2
  • 4200-RPC-3
  • 4200-RPC-6
  • 4200-SCP2-ACC
  • 4200-TMB
  • 4200-TRX-0.3
  • 4200-TRX-1
  • 4200-TRX-2
  • 4200-TRX-3
  • 4200-VAC-BASE
  • 4210-MMPC-C
  • 4210-MMPC-S

Измерительные модули:

  • 4200-80
  • 4200-CVU
  • 4200-FLASH
  • 4200-FLASH-2CH
  • 4200-PA
  • 4200-PIV-A
  • 4200-PIV-Q
  • 4200-PIV-Q-PLUS
  • 4200-SCP2
  • 4200-SCP2HR
  • 4200-SMU
  • 4210-CVU
  • 4210-SMU
  • 4225-PMU
  • 4225-PPM
  • 4220-PGU 

Программное обеспечение

  • 4200ICCAP-6.0
  • 4200-KTEI-7.2
  • 4200-KTEI-UPNT
  • ACS-4200

Для правильного конфигурирования системы Вы можете написать нашим специалистам по электронной почте: eliks@eliks.ru. Посла обработки Вашего заказа они обязательно свяжутся с Вами. Не забудьте указать Ваши контактные данные.

Информация по теме:

Приложения (на английском языке)

Статьи

Дополнительная информация

Все приведенные в описании данного прибора параметры являются типичными, их точное значение определяется в процессе калибровки. Для определения реальных параметров прибора при его приобретении рекомендуем заказать калибровку в метрологической службе нашей компании.

Дополнительные иллюстрации

Система измерения параметров полупроводников 4200-SCS/F - Вид сзади
Система измерения параметров полупроводников 4200-SCS/F - Вид сзади
 
Увеличить
  • Что такое импульсные и сверхбыстрые измерения ВАХ? Какими средствами их можно реализовать?

  • Что такое импульсные и сверхбыстрые измерения ВАХ? Какими средствами их можно реализовать?

    Что такое импульсные и сверхбыстрые измерения ВАХ? Какими средствами их можно реализовать?

    Ответить на эти и связанные с ними вопросы поможет вебинар на русском языке, проводимый специалистами компании Tektronix. В ходе вебинара будет рассказано о трех ключевых типах измерения вольт-амперных характеристик (ВАХ). Ключевое внимание будет уделено импульсным и ультрабыстрым измерениям ВАХ при помощи системы измерения параметров полупроводников Keithley 4200-SCS.


    http://www.eliks.ru/upload/iblock/b56/keithley-4200-scs.jpg

    Сверхбыстрые измерения ВАХ охватывают широкий диапазон применений, среди которых:
    • общее тестирование устройств в импульсном режиме: МОП транзисторы, резисторы, диоды, конденсаторы и т.п.;
    • измерение параметров КМОП: подкачка заряда, захват заряда, саморазогрев, надежность;
    • тестирование энергонезависимой памяти: флэш, PCRAM;
    • композитные полупроводниковые приборы и материалы: GaAs, GaN, лазерные диоды, измерение теплового импеданса;
    • нанотехнологии и микроэлектромеханические устройства: полевые транзисторы на углеродных нанотрубках, датчики;
    • солнечные батареи;
    • тестирование других устройств: дисплеи на органических светодиодах, устройства со сверхпроводниками; и многое другое.

    Смотреть видеопрезентацию:



    В описании системы измерения параметров полупроводников Keithley 4200-SCS на нашем сайте есть раздел - "Ультрабыстрое тестирование", в котором можно ознакомиться с двумя видами генераторов импульсов:
    • Генератор импульсов типа 4220-PGU 
    • Модуль ультрабыстрого тестирования 4225-PMU

    Для ультрабыстрого тестирования NBTI/PBTI полупроводников рекомендуется опция 4200-BTI-A про которую также можно прочитать в разделе - "Ультрабыстрое тестирование".

    Более полную информацию об измерительной системе Keithley 4200 можно получить у официального дистрибьютора Keithley на территории России - ЗАО НПП Эликс.

    Опытные специалисты помогут Вам ее правильно сконфигурировать, организовать семинар с демонстрацией возможностей, а также  поставить систему измерения параметров полупроводников Keithley 4200 в кратчайшие сроки.




    Наверх


    Назад в раздел
    Токовые клещи АКТАКОМ для любых задач!
    © ЭЛИКС, 1998-2016   Как сделать заказ
    Rambler's Top100
    Rambler's Top100 Рейтинг@Mail.ru Яндекс.Метрика