Тестирование МОП транзисторов (снятие ВАХ транзисторов с общим истоком)

Как снять вольт-амперную характеристику (ВАХ) МОП-транзистора?
Как автоматизировать данную процедуру?

Тестирование параметров транзисторов с общим истоком основан на инкрементальном изменении напряжения затвор-исток (Vзи) по заданному диапазону значений. На каждом значении напряжения Vзи, в заданном диапазоне, изменяется значение напряжения сток-исток Vси. При этом, измеряется значение тока стока Iс. Таким образом происходит снятие ВАХ (Iс – Vси) при заданном значении Vзи. График показывающий снятие такой ВАХ приведен ниже на рис.1

Рис.1

Схема построения измерительного стенда для тестирования характеристик МОП-транзисторов с общим истоком приведена на рис.2 . Для тестирования применяются 2-х канальный источник-измеритель Keithley 2600A.



Канал B источника-измерителя генерирует напряжение затвор-исток Vзи. Канал А источника-измерителя генерирует напряжение сток-исток Vси и одновременно измеряет ток стока Iс. Программирование источника-измерителя осуществляется через программное обеспечение Test Script Builder или TSP Express Software .

Благодаря наличию интерфейса TSP-Link имеется возможность подключить 32 источника-измерителя Keithley 2600A по USB или LAN к компьютеру, что может существенно ускорить процедуру тестирования

Более подробную информацию, в том числе и примеры программ-скриптов, Вы можете получить обратившись к нам и заказав диск DISK TEST SEMICONDUCTOR