Источники-измерители Keithley 2600-серии: тестирование биполярных транзисторов

04.09.2008

Источники-измерители Keithley 2600-серии были разработаны, как комбинированные приборы, сочетающие в себе источники питания и тока в комплексе с измерительными приборами. Одним из возможных применений данных источников-измерителей являются задачи связанные с тестированием биполярных транзисторов.
Как известно, биполярные транзисторы имеют 3 вывода: эммитер, коллектор и базу. Тестирование характеристик транзисторов производятся по 2-м каналам: база/эмиттер (B/E) и коллектор/эмиттер (C/E).

tranz1_450

Для тестирования транзисторов идеально подходят источники-измерители Keithley, содержащие в себе 2 канала источник-измеритель (SMU), в частности Keithley 2602.
Схема подключения Keithley 2602 показана на рисунке ниже:

tranz2_259

Как видно из рисунка получаемый стенд для тестирования биполярных транзисторов получается очень компактным и мобильным. Кроме того, данные приборы удовлетворяют самым высоким требованиям: они обладают высокой точностью, имеют связь с компьютером через встроенные интерфейсы, обладают большой скоростью генерации/измерения, большой пропускной способностью.Благодаря встроенному TSP-процессору могут быть запрограммированы для использования тех или иных измерительных задач.
Наличие программного обеспечения Test Script Builder позволяет создавать, изменять и загружать тестовые сценарии с использованием программного редактора, аналогичного Visual Basic.
Также имеется возможность загружать в тестовые программы приложения написанные на других языках программирования, таких как Visual Basic, Visual C/C++ или LabVIEW.

Статья о применении источников-измерителей Keithley 2600-серии в задачах по тестированию биполярных транзисторов разделена на несколько разделов и подразделов.

Введение.

Рассмотрены общие проблемы связанные с измерительными задачами по тестированию электронных компонентов. Рассматриваются преимущества применения источников/измерителей по сравнению с отдельными приборами.

Описание тестирования

В разделе описывается схема подключения источников/измерителей Keithley 2600 серии. Подробно описываются параметры и режимы в которых тестируются биполярные транзисторы. Отдельными подразделами приведены примеры загружаемых программ для тестирования параметров транзисторов.

Конфигурация систем

В данном разделе приведена конфигурация тестовых систем на базе Keithley 2600-серии, рассмотрена схема подключения, обмена потоками данных. В этом же разделе приведена блок-схема алгоритма тестирования и подробно объясняется почему увеличивается пропускная способность измерительных комплексов на базе источников/измерителей Keithley 2600 серии.

Типичные ошибки

В данном разделе рассматриваются типичные ошибки и неточности измерений возникающие при тестировании транзисторов, а также даны рекомендации по их исключению для получения более точных результатов.

Информация по темe:

Информация о поставщике: Keithley

Возврат к списку

Материалы по теме:

Решения

Новости ЭЛИКС