Тел.: (495) 781-4969, 344-6707, факс (495) 344-9810
На главную страницу
РАСПРОДАЖА!!!
Подписаться на
журнал "КИПиС"
Корзина 0 товаров
0,00 руб.
Заказать звонок
специалиста
На главную страницу Написать письмо Добавить в избранное Карта сайта Поиск
Поиск
Производители
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Принимаем заказы на справочник по измерениям в области нанотехнологии!

Принимаем заказы на справочник по измерениям в области нанотехнологии!

10.06.2008

Исследователю в области нанотехнологии часто требуются знания и навыки из множества научных дисциплин, физики, материаловедения, химии и теории и техники измерений.

Уже ясно, что нанонаука будет главным двигателем экономики в будущем. Но при этом понятно, что свойства наноразмерных компонентов и материалов завтрашнего дня будут далеки от тривиальных , а их электрические свойства будут лежат на самом пределе сегодняшних измерительных возможностей.

Чтобы снять завесу тайны и превратить нано-размерные материалы и приборы в коммерческий продукт, исследователи должны иметь надлежащие измерительные инструменты, гибкие и варьирующиеся от задачи к задачи, включающие измерения вольт-амперных характеристик, сопротивления, проводимости , дифференциальной проводимости, подвижности, энергетических и оптических спектров, приспособленные к специфике электрических измерений нано-объектов с малыми уровнями сигналов и величин.

Этой цели служит Справочник по электрическим измерениям в области нанотехнологии "Nanotechnology Mesurement Handbook. A Guide to Electrical Measurements for Nanoscience Applications, 1st Edition (c), Keithley 2007", подготовленный специалистами компании Keithley Instruments, Inc., - мирового лидера в области производства прецизионных измерителей электрических величин.

Данный справочник (на английском языке) представляет собой руководство по электрическим измерениям в области нанотехнологии, предлагающее практическую помощь в проведении прецизионных малосигнальных DC и импульсных измерений наноматериалов и наноприборов. Он будет полезен и как справочник, и как помощник в понимании феноменов, наблюдаемых в лаборатории при измерении ультрамалых величин. Он содержит обзор теоретических и практических подходов для измерения малых токов, высоких сопротивлений, малых напряжений и малых сопротивлений, а также примеры типовых измерительных систем для нано-объектов с использованием приборов KEITHLEY

Справочник состоит и 5 разделов и 4-х приложений.

Первый раздел справочника - вводный. В нем обсуждается связь между нанотехнологическим инновациями и техникой измерений, а также необходимость более тесного взаимодействия между исследователями и производителями измерительной техники. Определяется несколько наиболее популярных в настоящее время объектов электрических наноизмерений.

Второй раздел представляет собой обзор техники электрических измерений в нанотехнологии. Обсуждается проблема выбора правильной технологии измерения, затронута тема стандартизации нано-измерений, в частности принятый в 2005 году стандарт IEEE 1650TM-2005 для измерения параметров углеродных нанотрубок, а также вопросы импульсных измерений для нано-объектов. Обсуждаются вопросы физических и химических свойств наноматериалов, вопросы микроманипуляторов и пробников и их влияние на результаты измерения, затронуты темы измерительной топологии, электрического шума, решение проблемы самонагрева измеряемых объектов в ходе измерений, и др.

Третий раздел посвящен технике малосигнальных измерений. Обсуждаются вопросы внешних токов утечек по поверхностям измерительных устройств, которые могут быть соизмеримыми с измеряемыми нано-величинами , вопросы экранирования и заземления аппаратуры, шума и времени установления. Прочитав данную главу можно узнать, в чем различие при измерениях нанообъектов на постоянном и переменном тестовом напряжении/токе, каковы источники ошибок при таких измерениях, получить понятие об специализированных методах измерений малых электрических сигналов:

  • метод синхронного усилителя,
  • метод подавления шумов реверсивным DC источником тока (т.н. Дельта- измерения)

Раздельно рассматриваются случаи измерения малых, средних и высоких сопротивлений и связанные с ними вопросы паразитного шума и термо-электрического дрейфа. Подробно рассмотрен метод дельта -измерений для прецизионных измерений сопротивлений, а также подбор аппаратуры для проведения таких измерений на примере системы, состоящей из нановольтметра Keithley 2182A и источников малых токов Keithley 6220 и 6221.

Целая глава раздела посвящена методам измерения дифференциальных сопротивлений нано-объектов (известно, что зависимости тока от приложенного напряжения в них существенно нелинейные и могут даже менять знак). Сравниваются несколько способов измерений (ВАХ, АС), даются рекомендации по выбору подходящей схемы измерений и необходимых приборов.

Еще одна глава раздела посвящена измерению токов субфентоамперного (аттоамперного, т.е. 10-18А) диапазона, что практически равносильно подсчету отдельных электронов. Демонстрируются уникальные возможности источника-измерителя Keithley 6430, позволяющего проводить измерения с такими малыми токами.

В четвертом разделе кратко обсуждаются вопросы исследования наноматериалов на примере исследования электронного транспорта в наносхемах на базе нитрид-галлиевых нанопроволок с помощью измерителя Вольт-амперных характеристик Keithley 4200 SCS

В пятом разделе обсуждаются вопросы измерения отдельных наноприборов на примере углеродных нанотрубок, затронуты вопросы метода измерения, источника ошибок, включая нагрев прибора, загрязнения пробников и др.

Приложение А содержит подробные таблицы и схемы подбору приборов Keithley для измерений в области нанотехнологии

Приложение B - это словарь основных терминов по тематике справочника

Приложение С: содержит пояснения и обозначения связанные с безопасностью проведения измерений нано-объектов, что объясняется использованием при таких измерениях высоковольтных источников.

Приложение D содержит таблицу типичных проблем и ошибок при проведении электрических измерений нано-объектов, а также способы их решения.

Данный справочник можно заказать в нашей компании (оплачиваются только наши таможенные расходы).


Информация о поставщике:  Keithley

Возврат к списку


Материалы по теме:

Журнал "Контрольно-измерительные приборы и системы"
© ЭЛИКС, 1998-2016   Как сделать заказ
Rambler's Top100
Rambler's Top100 Рейтинг@Mail.ru Яндекс.Метрика