Тел.: (495) 781-4969, 344-6707, факс (495) 344-9810
На главную страницу
РАСПРОДАЖА!!!
Подписаться на
журнал "КИПиС"
Корзина 0 товаров
0,00 руб.
Заказать звонок
специалиста
На главную страницу Написать письмо Добавить в избранное Карта сайта Поиск
Поиск
Производители
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Прецизионные измерения характеристик полупроводниковых устройств

Прецизионные измерения характеристик полупроводниковых устройств

09.06.2012

Эликс и Keithley Instruments предлагают нашим клиентам CD диск (Mastering Measurement Methods for Today's Semiconductor Devices) с материалами конференций, которые проводит компания Keithley Instruments для обучения методам и способам прецизионных измерений характеристик полупроводниковых устройств.
Диск построен на основе вебинаров (web - конференций) проводимых компанией Keithley на английском языке и содержит три курса обучения: базовый, расширенный, прикладной. Данные семинары рассчитаны на различную продолжительность.

Базовый курс обучения
Данный курс содержит основные семинары обучающей программы, дающий основные понятия и методы измерений, которые необходимы для полного понимания измерений параметров полупрводников. Базовый курс является основой для знакомства с расширенным курсом семинаров учебной программы.
В базовом курсе приведены материалы следующих семинаров:
  • How to Make Electrical Resistivity Measurements of Bulk Materials: Conductors, Insulators, and Semiconductors
  • Hall Effect Measurements Fundamentals
  • Semiconductor Capacitance-Voltage (C-V) Testing Fundamentals
  • Understanding the Basics of Parallel Wafer Level Reliability (WLR)

Расширенный курс обучения
Данный курс представляет собой передовые учебные программы семинаров, построенные на концепциях и методах измерения используемых в большинстве комплексных измерениях и научных исследованиях в полупроводниковой области.
В данном разделе представлена информация, методы и тематические исследования для более сложных измерительных задач, чем в базовом курсе.
В расширенном курсе приведены материалы следующих семинаров:
  • Fundamentals of Ultra-Fast I-V Device Characterization
  • Tips, Tricks, and Traps in Ultra-Fast I-V Semiconductor Characterization
  • Tips, Tricks, and Traps for On-Wafer Probing
  • Fundamentals of Bias Temperature Instability and State of the Art Measurement Methods
  • High Voltage Wafer Level Test - Tips, Tricks, and Pitfalls

Прикладной курс обучения

Данные семинары сконцентрированы на концепциях и методах измерения используемых при тестировании специализированных полупроводниковых устройств.
В прикладном курсе приведены материалы следующих семинаров:
  • Meeting the Electrical Measurement Demands of High Power, High Brightness LEDs
  • New Methods for Testing Flash Memory
  • Non-Volatile Memory - Characterization and Measurement Techniques
  • Phase Change Memory - Fundamentals and Measurement Techniques

Получить диск можно следующими способами:

1. Приехать к нам в офис и получить диск на руки

2. Прислать запрос на нашу электронную почту: eliks@eliks.ru с указанием Вашей должности, названия предприятия и подразделения, а также укажите адрес Вашей электронной почты и контактного телефона.
Диск предназначен для рассылки только представителям предприятий и частным лицам не рассылается.

3. При покупке любого прибора в нашей фирме, Вы можете сообщить менеджеру о необходимости получения данного диска. Диск будет вложен в Ваш заказ

Все измерительное оборудование, используемое в данных семиенарах можно приобрести у официального дистрибьютора компании Keithley в России - ЗАО НПП Эликс .




Возврат к списку


Материалы по теме:

Распродажа осциллографов Tektronix! До 20% дешевле!
© ЭЛИКС, 1998-2016   Как сделать заказ
Rambler's Top100
Rambler's Top100 Рейтинг@Mail.ru Яндекс.Метрика