Прецизионные измерения характеристик полупроводниковых устройств

09.06.2012

Эликс и Keithley Instruments предлагают нашим клиентам CD диск (Mastering Measurement Methods for Today's Semiconductor Devices) с материалами конференций, которые проводит компания Keithley Instruments для обучения методам и способам прецизионных измерений характеристик полупроводниковых устройств.
Диск построен на основе вебинаров (web - конференций) проводимых компанией Keithley на английском языке и содержит три курса обучения: базовый, расширенный, прикладной. Данные семинары рассчитаны на различную продолжительность.

Базовый курс обучения
Данный курс содержит основные семинары обучающей программы, дающий основные понятия и методы измерений, которые необходимы для полного понимания измерений параметров полупрводников. Базовый курс является основой для знакомства с расширенным курсом семинаров учебной программы.
В базовом курсе приведены материалы следующих семинаров:

• How to Make Electrical Resistivity Measurements of Bulk Materials: Conductors, Insulators, and Semiconductors
• Hall Effect Measurements Fundamentals
• Semiconductor Capacitance-Voltage (C-V) Testing Fundamentals
• Understanding the Basics of Parallel Wafer Level Reliability (WLR)

Расширенный курс обучения
Данный курс представляет собой передовые учебные программы семинаров, построенные на концепциях и методах измерения используемых в большинстве комплексных измерениях и научных исследованиях в полупроводниковой области.
В данном разделе представлена информация, методы и тематические исследования для более сложных измерительных задач, чем в базовом курсе.
В расширенном курсе приведены материалы следующих семинаров:

• Fundamentals of Ultra-Fast I-V Device Characterization
• Tips, Tricks, and Traps in Ultra-Fast I-V Semiconductor Characterization
• Tips, Tricks, and Traps for On-Wafer Probing
• Fundamentals of Bias Temperature Instability and State of the Art Measurement Methods
• High Voltage Wafer Level Test - Tips, Tricks, and Pitfalls

Прикладной курс обучения
Данные семинары сконцентрированы на концепциях и методах измерения используемых при тестировании специализированных полупроводниковых устройств.
В прикладном курсе приведены материалы следующих семинаров:

• Meeting the Electrical Measurement Demands of High Power, High Brightness LEDs
• New Methods for Testing Flash Memory
• Non-Volatile Memory - Characterization and Measurement Techniques
• Phase Change Memory - Fundamentals and Measurement Techniques

Получить диск можно следующими способами:

1. Приехать к нам в офис и получить диск на руки

2. Прислать запрос на нашу электронную почту: eliks@eliks.ru с указанием Вашей должности, названия предприятия и подразделения, а также укажите адрес Вашей электронной почты и контактного телефона.
Диск предназначен для рассылки только представителям предприятий и частным лицам не рассылается.

3. При покупке любого прибора в нашей фирме, Вы можете сообщить менеджеру о необходимости получения данного диска. Диск будет вложен в Ваш заказ

Все измерительное оборудование, используемое в данных семиенарах можно приобрести у официального дистрибьютора компании Keithley в России - ЗАО НПП Эликс .