|
Тестирование полупроводников и полупроводниковых приборов
Тестирование полупроводников и полупроводниковых приборов
|
Снятие вольт-амперных характеристик с помощью осциллографа
Для быстрого обнаружения неисправных компонентов посредством анализа их вольт-амперных характеристик используется тестер компонентов. Но данный прибор может стоить довольно дорого и часто не требуется измерять параметры с высокой точностью, а необходимо просто проанализировать работоспособность того или иного электронного компонента. Можно ли это сделать при помощи осциллографа? |
|
|
Тестирование ВАХ солнечной батареи
Исследователи и производители фотоэлектрических элементов и солнечных панелей стремятся достичь максимально возможной эффективности с минимальными потерями. Вольт-амперная характеристика тока-напряжения (I-V) элемента выполняется для получения важных параметров о производительности элемента солнечной батареи. Необходимые характеристики тока и напряжения могут быть легко сгенерированы с помощью источников-измерителей Keithley 2450 или 2460. |
|
|
|
|
|
Тестирование светодиодов высокой яркости при помощи источника-измерителя Keithley SourceMeter® 2461
Светодиоды
высокой яркости видимого диапазона (HBLEDs) обладают высокой эффективностью и
длительным сроком службы, что привело к росту сферы их применения. Точное
тестирование при относительно небольших затратах имеет решающее значение для
обеспечения надежности и качества этих устройств. Встроенные
возможности источника-измерителя Keithley SourceMeter® 2461 по
импульсному тестированию и быстродействующий аналого-цифровой преобразователь
позволяют сократить время испытаний. |
|
|
Решения
11 - 17 из 17
Начало
|
Пред.
|
1
2
|
След. | Конец
|
|
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.