Тел.: (495) 781-4969, 344-6707, факс (495) 344-9810
На главную страницу
РАСПРОДАЖА!!!
Подписаться на
журнал "КИПиС"
Корзина 0 товаров
0,00 руб.
Заказать звонок
специалиста
На главную страницу Написать письмо Добавить в избранное Карта сайта Поиск
Поиск
Производители
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама
Журнал "Контрольно-измерительные приборы и системы"

Измерения электрофизических параметров нано-приборов и наноматериалов


Рекомендации по выбору прибора Keithley для снятия ВАХ устройств полупроводниковых устройств
Рекомендации по выбору прибора Keithley для снятия ВАХ устройств полупроводниковых устройств

Одной из основных измерительных задач связанных с тестированием электронных компонентов, в частности - полупроводников, является снятие их вольт-амперной характеристики (ВАХ). Особенно актуально данный вопрос стоит для компонентов нано- и молекулярной электроники. Помочь в выборе необходимого прибора могут рекомендации приведенные в этой публикации.
 
Рекомендации по выбору прибора Keithley при измерении сопротивления наноматериалов
Рекомендации по выбору прибора Keithley при измерении сопротивления наноматериалов

При измерении сопротивления наноматериалов на различной основе может возникнуть проблема выбора необходимого для решения этой задачи измерительного прибора. Приведенное краткое руководство позволяет облегчить измрение сопротивления нанотрубок, нанопроволоки и нановолокон
 
Снятие импульсных ВАХ наноматериалов, нанопроводников, экспериментальных наноустройств
Снятие импульсных ВАХ наноматериалов, нанопроводников, экспериментальных наноустройств

Рекомендации по выбору измерительных приборов Keithley в задачах связанных со снятием импульсных ВАХ наноматериалов, нанопроводников, экспериментальных наноустройств
 

Получить измерительные задачи по RSSПолучить измерительные задачи по RSS
© ЭЛИКС, 1998-2016   Как сделать заказ
Rambler's Top100
Rambler's Top100 Рейтинг@Mail.ru Яндекс.Метрика