Тел.: (495) 781-4969, 344-6707, факс (495) 344-9810
На главную страницу
РАСПРОДАЖА!!!
Подписаться на
журнал "КИПиС"
Корзина 0 товаров
0,00 руб.
Заказать звонок
специалиста
На главную страницу Написать письмо Добавить в избранное Карта сайта Поиск
Поиск
Производители
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама
Журнал "Контрольно-измерительные приборы и системы"

Тестирование стандартов высокоскоростных интерфейсов



Новое поколение стандартов интерфейсов расширяют границы возможностей современных инструментов отслеживания и отладки. Высокоскоростные технологии шин, такие как PCIe 4.0 (16 Гб/с), SAS (12 Гб/с), SuperSpeed USB (10 Гб/с), and DDR4 (3200 MT/с) требуют проведения более сложных испытаний для тестирования передатчиков и приемников.
Используйте наш электронный справочник для лучшего понимания задач проектирования при тестировании стандартов высокоскоростных интерфейсов. Вы получите быстрый доступ к таким ресурсам как вебинар, учебное пособие, руководство по применению и методы применения, которые помогут Вам решить поставленные задачи и подобрать правильное решение.

Скачать новый справочник Tektronix (на английском языке):
Тестирование стандартов высокоскоростных интерфейсов


Назад в раздел
Получить измерительные задачи по RSSПолучить измерительные задачи по RSS
© ЭЛИКС, 1998-2016   Как сделать заказ
Rambler's Top100
Rambler's Top100 Рейтинг@Mail.ru Яндекс.Метрика