Тел.: (495) 781-4969, 344-6707, E-mail: eliks.mail@eliks.ru
ТОЧНОСТЬ ДЛЯ ПРОФЕССИОНАЛОВ
Читать журнал
"КИПиС"
Корзина 0 позиций
0,00 руб.
Поиск
Бренды
Информация
Журнал "Контрольно-измерительные приборы и системы"
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться

Измерения электрофизических параметров нано-приборов и наноматериалов


Рекомендации по выбору прибора Keithley для снятия ВАХ устройств полупроводниковых устройств
Рекомендации по выбору прибора Keithley для снятия ВАХ устройств полупроводниковых устройств

Одной из основных измерительных задач связанных с тестированием электронных компонентов, в частности - полупроводников, является снятие их вольт-амперной характеристики (ВАХ). Особенно актуально данный вопрос стоит для компонентов нано- и молекулярной электроники. Помочь в выборе необходимого прибора могут рекомендации приведенные в этой публикации.
 
Рекомендации по выбору прибора Keithley при измерении сопротивления наноматериалов
Рекомендации по выбору прибора Keithley при измерении сопротивления наноматериалов

При измерении сопротивления наноматериалов на различной основе может возникнуть проблема выбора необходимого для решения этой задачи измерительного прибора. Приведенное краткое руководство позволяет облегчить измрение сопротивления нанотрубок, нанопроволоки и нановолокон
 
Снятие импульсных ВАХ наноматериалов, нанопроводников, экспериментальных наноустройств
Снятие импульсных ВАХ наноматериалов, нанопроводников, экспериментальных наноустройств

Рекомендации по выбору измерительных приборов Keithley в задачах связанных со снятием импульсных ВАХ наноматериалов, нанопроводников, экспериментальных наноустройств
 

Получить измерительные задачи по RSSПолучить измерительные задачи по RSS
Журнал "Контрольно-измерительные приборы и системы"
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.