Keithley 4200-SCS - универсальная система для измерения параметров полупроводников

05.03.2010

Измерители ВАХ и C-V характеристик обеспечивают тестирование активных и пассивных нелинейных компонентов электронных схем и экстракцию из снятых характеристик электрофизических параметров полупроводниковых приборов и слоев. Они построены на базе источников-измерителей, обеспечивающих одновременно формирование тестового воздействия напряжения (или тока) на тестируемый прибор, необходимую нагрузку в цепи и осуществляющие измерение результирующего тока. Активные компоненты тестируются с помощью 2-канальных систем (один канал регистрирует выходной ток, другой канал формирует входное воздействие на управляющий вывод прибора (база или затвор транзистора)). Пассивные элементы могут тестироваться одноканальными системами. В нашем ассортименте данный тип приборов представлен продукцией американской компании Keithley Instruments.

На нашем сайте широко представлены приборы и комплексы для снятия ВАХ полупроводников.

Источники-измерители Keithley SourceMeter® серии 2400

Одноканальные комбинированные приборы, объединяющие в одном корпусе: прецизионный программируемый источник питания с режимом электронной нагрузки, генератор тока (TrueRMS), 5 1⁄2-разрядный мультиметр, генератор мощных токовых импульсов (только в модели 2430). Благодаря программе LabTracer 2.0™ можно просто и удобно динамически снимать ВАХ Источники-Измерители

Источники-измерители Keithley SourceMeter® серии 2600A

Одно- и двухканальные приборы, каждый канал которых может быть сконфигурирован, как:прецизионный источник питания, источник тока (TRUE RMS), 5½ –разрядный мультиметр, генератор импульсов, генераторы тока и напряжения, электронная нагрузка.
Многократное ускорение процесса тестирования, обеспечивается благодаря сочетанию встроенного TSP-процессора (Test Script Processor) и встроенного программного обеспечения TSP Express™. Кроме того, Reithley 2600 A обладает уникальными возможностями по созданию собственных тестовых сценариев с Test Script Builder™

Источник-измеритель субфентоамперный Keithley SourceMeter® модель 6430

комбинированный прибор для работы с малыми (до 10-18А) токами, объединяющие в одном приборе: прецизионный программируемый источник питания с режимом электронной нагрузки, генератор ультрамалых токов (TrueRMS) , 6 1⁄2-разрядный мультиметр. Keithley 6430 снабжен двунаправленным выносным предусилителем малых токов

А теперь и Система измерения параметров полупроводников 4200-SCS

Keithley 4200-SCS - это универсальная система для измерений I-V (вольт-амперных характеристик –ВАХ) и С-V (вольт-фарадных характеристик) на постоянном токе и в импульсном режиме для полупроводниковых приборов и тестовых структур на пластине в полупроводниковом производстве. 4200-SCS имеет модульную многоканальную архитектуру и настраиваемую конфигурацию, поддерживая до 8 измерительных модулей и дополнительных модулей

Система обладает громадным количеством возможностей по автоматическому тестированию, и среди них:

• Многоканальное измерение ВАХ в диапазоне токов 100 фА до 1А и напряжения от 1мкВ до 200В с модулями высокой (4210-SMU) и средней (4200-SMU) мощности и предусилителем малых токов (4200-PA) обеспечивающим разрешение 0,1 фА
• Измерение C-V в диапазоне до 400В с разрешением 5мВ, в частотном диапазоне от 1кГц до 10МГц с модулями высокой (4210-CVU) и средней (4200-CVU) мощности
• Базовая и расширенная комплектация системы
• Поддержка до 8 измерительных и дополнительных модулей одновременно
• Интерактивный пользовательский интерфейс KITE, благодаря которому, даже неопытный пользователь может сразу без помощи программиста приступить к измерениям, которые займут немного времени
• Импульсные измерения с опциями: 4200-PIV-A, 4200-PIV-Q, 4200-Flash
• Ультрабыстрые измерения с опциями: 4225-PMU, 4225-PPM, 4220-PGU (новые возможности!!!)
• Анализ с экстракцией электрофизических параметров полупроводников
• Поддержка матричных коммутаторов серий 4200-UL-LS-XX и 4200-LC-LS-XX для автоматизации процесса тестирования

Информация о поставщике:  Keithley