Тел.: (495) 781-4969, 344-6707, E-mail: eliks.mail@eliks.ru
ТОЧНОСТЬ ДЛЯ ПРОФЕССИОНАЛОВ
Читать журнал
"КИПиС"
Корзина 0 позиций
0,00 руб.
Поиск
Бренды
Информация
Журнал "Контрольно-измерительные приборы и системы"
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться

Измерение вольт-фарадных характеристик полупроводниковых приборов — выбор современного бюджетного решения

Современная электрофизика полупроводников немыслима без измерения вольт-фарадных характеристик (ВФХ), или т.н. CV-метрии, что подразумевает измерение емкости как функции от приложенного постоянного напряжения смещения. Именно эти измерения дают возможность быстрого определения базовых параметров слоев полупроводников и диэлектриков, которые затруднительно измерить прямыми методами.

ЗагрузитьЧитать
Источник:  журнал "Контрольно-измерительные приборы и системы"

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Комплекты портативных осциллографов RTH1002 PLUS
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.