Одной из основных измерительных задач связанных с тестированием электронных компонентов, в частности - полупроводников, является снятие их вольт-амперной характеристики (ВАХ). Особенно актуально данный вопрос стоит для компонентов нано- и молекулярной электроники. Помочь в выборе необходимого прибора могут рекомендации приведенные в этой публикации.

Измерительные приборы и системы используемые для решения данной измерительной задачи:
- Измерительная система Keithley 4200-SCC
- Источник-измеритель субфемтоамперный Keithley 6430
- Одно и двухканальные источники-змерители серии SourceMeter Keithley 2600A
- Одноканальные источники-измерители серии SourceMeter Keithley 2400
- Пикоамперметр с источником питания - Keithley 6487
- Электрометр Keithley 6517B
|