Тел.: (495) 781-4969, 344-6707, E-mail: eliks.mail@eliks.ru
ТОЧНОСТЬ ДЛЯ ПРОФЕССИОНАЛОВ
Читать журнал
"КИПиС"
Корзина 0 позиций
0,00 руб.
Поиск
Бренды
Информация
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться

Специальное предложение для учебных заведений на систему измерения параметров полупроводников Keithley 4200A-SCS

15.08.2017

ЗАО НПП Эликс - официальный дистрибьютор Tektronix - информирует о специальной программе Tektronix для учебных заведений на систему измерения параметров полупроводников Keithley 4200A-SCS.

Только до 31 декабря 2017 года любое учебное заведение, при покупке системы Keithley 4200A-SCS с измерительным модулем SMU, CVU, PMU или PGU, получит 40% скидку от розничной цены на мейнфрейм 4200A-SCS плюс бесплатное расширение гарантии на него до 3 лет.

Кроме того, на модули, входящие в конфигурацию базового блока, предоставляется учебная скидка 15% от розничной цены.

Под действие данной специальной программы Tektronix попадают:

  • Вузы, университеты, колледжи, училища, академии, школы и др. учебные заведения, профессионально занимающиеся обучением студентов, учащихся, аспирантов;
  • Научные организации, имеющие в своем составе подразделения, занимающиеся профессиональным обучением, например, аспирантуру.

 


Система Keithley 4200A-SCS – универсальная система для измерения вольт-амперных характеристик I-V на постоянном токе, С-V метрии (снятие вольт-фарадных характеристик) на переменном токе и в импульсном режиме для полупроводниковых приборов и тестовых структур на пластине в полупроводниковом производстве.

Система имеет модульную многоканальную архитектуру и настраиваемую конфигурацию, поддерживая до 9 измерительных и дополнительных модулей.

Обеспечивает:

  • Измерение ВАХ в диапазоне токов 0,1 фА до 1 А и напряжения от 1 мкВ до 210 В
  • Измерения на переменном токе (C-V, C-f, C-t) в диапазоне до 420 В с разрешением 1 мВ, в частотном диапазоне от 1 кГц до 10 МГц
  • Ультрабыстрое и импульсное тестирование с временным разрешением 5 нс

Автоматическое переключение между режимом измерения ВАХ и CV-метрией

Техническое описание и цены…



Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Журнал "Контрольно-измерительные приборы и системы"
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.