Отладка и тестирование высокоскоростных устройств со смешанными сигналами с помощью осциллографа серии Tektronix MSO70000

Современные встраиваемые и вычислительные системы становятся всё более мощными благодаря применению высокоскоростных шин передачи данных, промышленных контролёров и повышению функциональности интегральных схем. Такие системы становятся более чувствительны к качеству сигнала и требуют больше времени для отладки. Конечные устройства могут содержать множество подсистем, некоторые из которых взаимодействуют друг с другом и с внешним миром. Синхронная, слаженная работа всех подсистем является весьма критичной для функционирования всего устройства. Для отладки таких устройств необходим инструмент, позволяющий тестировать не только каждую отдельную подсистему, но и всё устройство целиком. Данная статья посвящена отладке и тестированию высокоскоростных устройств со смешанными сигналами с помощью осциллографа серии Tektronix MSO70000.