|
Поиск
Авторизация
|
Тестирование стандартов высокоскоростных интерфейсов
Новое поколение стандартов интерфейсов расширяют границы возможностей современных инструментов отслеживания и отладки. Высокоскоростные технологии шин, такие как PCIe 4.0 (16 Гб/с), SAS (12 Гб/с), SuperSpeed USB (10 Гб/с), and DDR4 (3200 MT/с) требуют проведения более сложных испытаний для тестирования передатчиков и приемников.
Используйте наш электронный справочник для лучшего понимания задач проектирования при тестировании стандартов высокоскоростных интерфейсов. Вы получите быстрый доступ к таким ресурсам как вебинар, учебное пособие, руководство по применению и методы применения, которые помогут Вам решить поставленные задачи и подобрать правильное решение. Скачать новый справочник Tektronix (на английском языке): Тестирование стандартов высокоскоростных интерфейсов Назад в раздел |